高分辨率透射电子显微镜
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3/人使用者
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10/次机时次数
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13006/小时总时长
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3853/次送样次数
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201/人收藏者
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收费标准
机时50元/样品送样详见检测项目 -
设备型号
JEM-2100（HR） -
当前状态
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管理员
王丹 18796005752 -
放置地点
分析测试中心中心1楼大门中心1楼103
- 仪器信息
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
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名称
高分辨率透射电子显微镜
资产编号
00115572
型号
JEM-2100（HR）
规格
JEM-2100（HR）
产地
日本
厂家
日本电子株式会社（JEOL）
所属品牌
出产日期
购买日期
所属单位
分析测试中心
使用性质
科研
所属分类
资产负责人
王丹
联系电话
18796005752
联系邮箱
放置地点
分析测试中心中心1楼大门中心1楼103
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
主要规格&技术指标
主要技术指标（只能做EDS点谱，不能做mapping！）：
1、电子枪：LaB6；加速电压：200KV
2、点分辨率：0.24nm，晶格分辨率：0.14nm
3、球差系数（Cs）：优于1.2mm ；色差系数（Cc）：优于1.4mm；
4、样品倾斜角度：±35°或大于±35°；样品移动范围：2mm（X,Y）、0.4mm（Z±0.2mm）；控制精度：优于2nm；
主要配置：
1、X射线能谱仪（EDS）：美国EDAX公司GENESIS 2000 XM 30T，性能指标：PVRTEM/SUTW Si（Li）可伸缩型Sapphire™ 探测器，带超薄窗；分辨率≤136eV（MnKa），峰背比≤18,000:1，探测器有效面积30 mm²。
2、CCD成像系统：美国Gatan公司794型（1k×1k）+782型CCD相机。
1、电子枪：LaB6；加速电压：200KV
2、点分辨率：0.24nm，晶格分辨率：0.14nm
3、球差系数（Cs）：优于1.2mm ；色差系数（Cc）：优于1.4mm；
4、样品倾斜角度：±35°或大于±35°；样品移动范围：2mm（X,Y）、0.4mm（Z±0.2mm）；控制精度：优于2nm；
主要配置：
1、X射线能谱仪（EDS）：美国EDAX公司GENESIS 2000 XM 30T，性能指标：PVRTEM/SUTW Si（Li）可伸缩型Sapphire™ 探测器，带超薄窗；分辨率≤136eV（MnKa），峰背比≤18,000:1，探测器有效面积30 mm²。
2、CCD成像系统：美国Gatan公司794型（1k×1k）+782型CCD相机。
主要功能及特色
1．主要对各种固体、粉体、纳米材料的内部微观组织、晶体缺陷、颗粒大小、形态的观察和微结构的表征；电子衍射物相分析及高分辨电子显微术研究，晶体微观结构及晶体位向进行研究。
2．配合X射线能谱仪可进行微区的元素成份的同位分析。
3．广泛应用于材料、物理、化学与化工、纳米技术、环境等学科领域。
2．配合X射线能谱仪可进行微区的元素成份的同位分析。
3．广泛应用于材料、物理、化学与化工、纳米技术、环境等学科领域。
样本检测注意事项
1、块体样品需要在预约单上注明。
2、申请人需要先送制好的样品和预约单至分析测试中心一楼103透射电镜实验室，然后网络上提交送样申请，未送样品和预约单的申请将不予通过。
3、样品自制。
4、检测样品不得具有磁性。
5、校外样品需要提前与电镜老师沟通寄样。
2、申请人需要先送制好的样品和预约单至分析测试中心一楼103透射电镜实验室，然后网络上提交送样申请，未送样品和预约单的申请将不予通过。
3、样品自制。
4、检测样品不得具有磁性。
5、校外样品需要提前与电镜老师沟通寄样。
设备使用相关说明
块体样品（校内120元/样，校外300元/样）
1.拍高分辨像收费视具体情况而定。
2.能谱EDS元素点分析+ 60元/点（只能做EDS点谱，不能做mapping！）。
3.样品自制。
粉末样品（校内60元/样，校外300元/样）
1、拍摄高分辨像+120元/样。
2、能谱EDS元素分析+60元/样。
3、铜网自备。
1.拍高分辨像收费视具体情况而定。
2.能谱EDS元素点分析+ 60元/点（只能做EDS点谱，不能做mapping！）。
3.样品自制。
粉末样品（校内60元/样，校外300元/样）
1、拍摄高分辨像+120元/样。
2、能谱EDS元素分析+60元/样。
3、铜网自备。
检测项目
附件下载
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