场发射扫描电子显微镜 FESEM
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2/人使用者
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49/次机时次数
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14366/小时总时长
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5/次送样次数
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17/人收藏者
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收费标准
机时0元/小时送样详见检测项目 -
设备型号
JSM-IT800 -
当前状态
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管理员
吉恒松,张仕慧,陶磊 18014526022 -
放置地点
泰州新能源研究院实验室A02室
- 仪器信息
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
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名称
场发射扫描电子显微镜 FESEM
资产编号
TZYJY001
型号
JSM-IT800
规格
JEOL
产地
日本
厂家
日本电子株式会社（JEOL）
所属品牌
日本电子
出产日期
2021-05-13
购买日期
2020-12-21
所属单位
泰州新能源研究院
使用性质
科研
所属分类
资产负责人
张仕慧
联系电话
18014526022
联系邮箱
放置地点
泰州新能源研究院实验室A02室
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
1.分辨率：
高真空分辨率（二次电子）：0.5 nm@15kV
高真空分辨率（二次电子）：0.7 nm@1kV（不开减速）
高真空分辨率（二次电子）：0.9 nm@500V（开减速模式）
2. 加速电压：0.01kV~30kV
3. 束流大小：3pA ~500nA
4. 放大倍率：10~200万倍
5. 元素分析范围: Be ~ U92
高真空分辨率（二次电子）：0.5 nm@15kV
高真空分辨率（二次电子）：0.7 nm@1kV（不开减速）
高真空分辨率（二次电子）：0.9 nm@500V（开减速模式）
2. 加速电压：0.01kV~30kV
3. 束流大小：3pA ~500nA
4. 放大倍率：10~200万倍
5. 元素分析范围: Be ~ U92
主要功能及特色
该仪器具有超高分辨率，能对各种固态样品表面形貌的二次电子像、背散射电子像观察及图像处理。配备有高性能X射线能谱仪系统，能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析，具有形貌、化学组分综合分析能力。
广泛用于材料、机械、物理、化学化工、生物、医学、药学、食品、环境、能源、地质矿物等领域的研究及产品分析，可以观察和分析上述微米、纳米级样品的表面特征，是研究材料结构与性能关系所不可缺少的重要工具。
广泛用于材料、机械、物理、化学化工、生物、医学、药学、食品、环境、能源、地质矿物等领域的研究及产品分析，可以观察和分析上述微米、纳米级样品的表面特征，是研究材料结构与性能关系所不可缺少的重要工具。
样本检测注意事项
材料样品干燥、无挥发、导电性能良好（导电不良需进行喷镀处理）。样品尺寸尽量小而薄。送样前必须填写样品检测单。
设备使用相关说明
样品测试自收样日起5个工作日内出结果(微信或邮箱)，加急收费。
具体预约流程及收费标准请先联系仪器负责人张仕慧，联系电话：18014526022。
具体预约流程及收费标准请先联系仪器负责人张仕慧，联系电话：18014526022。
备注
送样与测试地点位于泰州市新能源产业园区姚家路22号4楼江苏大学泰州新能源研究院A02实验室。收样人：张仕慧，联系电话：18014526022。仅在工作时间收样（周一至周五早八点半至下午5点半）。
检测项目
附件下载
公告
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