X射线衍射仪
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收费标准
机时30元/样品送样详见检测项目 -
设备型号
D8 ADVANCE -
当前状态
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管理员
孙秀娟 13655280564 -
放置地点
分析测试中心中心2楼大门中心2楼203
- 仪器信息
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
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名称
X射线衍射仪
资产编号
00174676
型号
D8 ADVANCE
规格
D8 ADVANCE
产地
德国
厂家
BRUKER
所属品牌
BRUKER
出产日期
2010-06-07
购买日期
所属单位
分析测试中心
使用性质
科研
所属分类
资产负责人
孙秀娟
联系电话
13655280564
联系邮箱
放置地点
分析测试中心中心2楼大门中心2楼203
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
主要规格&技术指标
最大输出功率：3kW
靶材：铜靶，探测器：半导体阵列探测器
测角仪角度重现性：0.0001°
角分别率：<0.037，最大背景：<0.1cps
转动方式：θ/θ测角仪，
角度测试范围（2θ）：-4~150
温度测量范围：室温-1200℃。
靶材：铜靶，探测器：半导体阵列探测器
测角仪角度重现性：0.0001°
角分别率：<0.037，最大背景：<0.1cps
转动方式：θ/θ测角仪，
角度测试范围（2θ）：-4~150
温度测量范围：室温-1200℃。
主要功能及特色
仪器采用当前最先进的技术，能够精确地对金属和非金属多晶粉末样品进行物相检索分析、物相定量分析、基本参数法线形分析分析、晶胞参数计算和固溶体分析。
样本检测注意事项
粉末或块状样均可，样品表面要求十分平整，且样品表面与样品盘表面在同一平面上（选择合适的样品盘）。样品表面不规则，不平整，凸起或凹下，很毛糙等都会引起衍射线的宽化，位移以及使强度产生复杂变化。 粉末颗粒在5～15μm最佳，过200目筛。
设备使用相关说明
常规物相分析：校内：扫描速度≥5°/min，30元/样，校外：120元/样
扫描速度每降低1°，加收一个样品费用；扫描速度低于1°，价格面议。
特殊检测价格面议。
扫描速度每降低1°，加收一个样品费用；扫描速度低于1°，价格面议。
特殊检测价格面议。
检测项目
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