200KV场发射高分辨透射电镜

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收费标准

机时
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详见检测项目

设备型号

Talos F200X

当前状态

管理员

黄婷,田恬 18752962952 17751765980

放置地点

分析测试中心中心F楼玻璃门中心F楼107
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名称

200KV场发射高分辨透射电镜

资产编号

00347484

型号

Talos F200X

规格

产地

厂家

所属品牌

赛默飞

出产日期

购买日期

所属单位

分析测试中心

使用性质

科研

所属分类

资产负责人

黄婷

联系电话

18752962952,17751765980

联系邮箱

放置地点

分析测试中心中心F楼玻璃门中心F楼107
  • 主要规格&技术指标
  • 主要功能及特色
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  • 备注
主要规格&技术指标
加速电压:200 KV ;电子枪:超亮型场发射电子枪;信息分辨率: 0.12 nm; STEM分辨率: 0.16 nm; TEM放大倍数:25x~1050000x;
样品倾斜角度X/Y:±30°
主要功能及特色
该仪器可在微纳米级尺度下对各种材料内部微结构进行观察,具体如下:
1. 对材料显微结构进行形貌和高分辨观察 ;
2. 对材料进行选区电子衍射和晶体结构分析;
3. 配合能谱仪(EDS)对样品元素做点、线、面分布分析,以及各种元素进行定性和半定量微区分析。
广泛应用于粉末、纳米颗粒、金属、陶瓷、半导体等材料的显微结构分析。
样本检测注意事项
1. 形貌观察;2.高分辨观察;3.选区电子衍射;4. EDS 能谱分析(点、线、面扫描)。5.预约时写清样品所含元素。
设备使用相关说明
形貌(150元/样)+高分辨(150元/样)+Mapping(100元/样),具体扣费金额根据检测项目收取。
预约时写清样品所含元素。
备注
样品要求:
1.透射电镜不做磁性样品;2.对于粉末样品,要求样品均匀分散在支持膜上并且干燥,能够区分支持膜正反面;3.对于块体样品,要求样品大小为直径3mm的圆,厚度为200nm以下;4.高分辨样品要求厚度在10nm以下。5. 样品自制。6.预约时写清样品所含元素。
检测项目
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